By identifying the defective pixel having a growth potential which increases its size in a short time, the invention provides a two-dimensional array X-ray that can recognize the two-dimensional array X-ray detector is not suitable for X-ray and an object thereof is to provide an inspection method of the detector. Test method for the two-dimensional array X-ray detector, dark and measured values of the individual pixels and the bias voltage step of repeating multiple times and stop granting the application of the bias voltage by the common electrode, in a state where no X-ray irradiation identifying defective pixels identifying step a defective pixel based on the current value measurement process, the pixel values of the pixels measured by the dark current value measuring step, and the size of the defective pixel blocks or the total number of defective pixels identified in the defective pixel identification process and a determination step of determining the suitability of the two-dimensional array X-ray detector based on differentially.この発明は、短時間でその大きさが大きくなる成長性を有する欠損画素を識別することにより、X線撮影に適さない二次元アレイX線検出器を認識することが可能な二次元アレイX線検出器の検査方法を提供することを目的とする。この二次元アレイX線検出器の検査方法は、共通電極によるバイアス電圧の付与と付与の停止とを複数回繰り返すバイアス電圧工程と、X線を照射しない状態における各画素の画素値を測定する暗電流値測定工程と、暗電流値測定工程で測定した各画素の画素値に基づいて欠損画素を識別する欠損画素識別工程と、欠損画素識別工程において識別した欠損画素の総数または欠損画素塊の大きさに基づいて二次元アレイX線検出器の適否を判定する判定工程とを備える。
