您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

INSPECTION METHOD AS TO WHETHER CORRECT CONTACT OR NOT OF ELECTRODE AT FNIRS
专利权人:
성균관대학교산학협력단;동서대학교 산학협력단
发明人:
김연희,정영진,서정현
申请号:
KR1020190018059
公开号:
KR1020200099874A
申请日:
2019.02.15
申请国别(地区):
KR
年份:
2020
代理人:
摘要:
In the functional near-infrared spectroscopy according to the present invention, an apparatus for checking correct contact of an electrode includes an electrode; a light-emitting unit composed of a multi-wavelength LED (source) for fNIRS measurement and connected by an optical fiber from the electrode to protrude to the outside; And a light-receiving unit focused in the electrode by using a circuit composed of a semiconductor sensor for measuring near-infrared rays. When an optical cable is used in the fNIRS system, signal quality can be improved.본 발명에 따른 기능적 근적외선 분광법에서 전극의 올바른 접촉 여부에 대한 검사장치는 전극; fNIRS측정을 위해 다파장 발광(multi-wavelength) LED(source)로 구성되고 상기 전극에서 광섬유로 연결되어 외부로 돌출된 발광부; 및 근적외선 측정용 반도체 센서(detector)로 구성된 회로를 이용하여 상기 전극 내에 집속된 수광부;를 포함하여 fNIRS 시스템에서 광케이블을 사용하게 될 경우 신호품질을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充