Dual energy differential phase contrast imaging

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专利权人:

コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ

发明人:

メルテンス ゲルハルト,バン ステーベンダール ウド

申请号：

JP2017520446

公开号：

JP2017530827A

申请日:

2016.08.26

申请国别(地区):

JP

年份:

2017

代理人:

摘要：

A grating built-in interferometer X-ray imaging apparatus having an interferometer IF. The interferometer includes at least one grating G1. The grating G1 can be tilted with respect to the optical axis of the X-ray imaging apparatus. As a result, the design energy of the X-ray imaging apparatus can be changed.干渉計ＩＦを有する、格子組み込み式干渉計Ｘ線撮像装置。干渉計は、少なくとも１つの格子Ｇ１を含む。格子Ｇ１は、Ｘ線撮像装置の光軸に対して傾けることができる。これにより、Ｘ線撮像装置の設計エネルギーを変更することが可能になる。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/