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用于X射线图像中的散射校正的设备和用于X射线图像中的散射校正的方法
- 专利权人:
- 皇家飞利浦有限公司
- 发明人:
- H-I·马克
- 申请号：
- CN201880003887.6
- 公开号：
- CN109803585A
- 申请日:
- 2018.09.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于X射线图像中的散射校正的设备,所述X射线图像(30、40)具有叠加的结构化图案,所述设备(1)包括:X射线图像接收元件(10);图案去除器(11);以及第一减法模块(12);其中,所述X射线图像接收元件(10)被配置为接收包括叠加的结构化图案(31)的X射线图像(30、40);其中,所述图案去除器(11)被配置为从所述X射线图像(30、40)去除所述结构化图案(31),得到经图案校正的X射线图像(43);其中,所述第一减法模块(12)被配置为从所述X射线图像(40)中减去所述经图案校正的X射线图像(33、43),得到结构化图案图像(32、42);并且其中,对比度测量单元(13)被配置为将局部结构对比度测量函数应用于所述结构化图案图像(32、42),得到结构对比度图像(34、44)。本发明改善了X射线图像的散射校正。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
