一种米类加工精度的检验方法
- 专利权人:
- 国家粮食储备局成都粮食储藏科学研究所;株式会社佐竹
- 发明人:
- 董德良,张华昌,王杏娟,石恒,马鑫,松岛秀昭,河野元信,石突裕树,江盛贵之
- 申请号：
- CN200810045086.4
- 公开号：
- CN101551376B
- 申请日:
- 2008.03.31
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 尹光成`余丽生
- 摘要：
- 一种米类加工精度的检验方法，主要用于检验大米的加工精度。该方法首先是将待测样品进行加热处理，其加热温度为150℃～250℃，加热时间为1min～25min，使样品的留皮部分变色，再由人工或仪器检验该样品留皮程度，再与标准样品比较，判断出该样品的加工精度。本方法可以消除垩白粒对米类加工精度检验的影响，实现米类加工精度的准确测量；且可替代原染色法，不使用化学试剂，安全环保。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
