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基因定位的多重检验方法
专利权人:
杭州和壹基因科技有限公司
发明人:
刘三阳,范崇仪,钱晓菊,张新明,高金龙,罗亚丹,范玉美,赵艳艳,王兆宝
申请号:
CN201510005209.1
公开号:
CN104573409A
申请日:
2015.01.04
申请国别(地区):
中国
年份:
2015
代理人:
唐银益
摘要:
本发明公开了一种基因定位的多重检验方法,其特征在于,包括:步骤一:对亲本DNA样品和子代DNA样品进行测序,获得高精度短片段序列;步骤二:对获得的所述高精度短片段序列与参考序列比对或者相互聚类,得到准确的SNP信息;步骤三:将SNP信息转换成群体SNP,进一步转换成标准的分子标准格式,进行遗传图谱构建,并在遗传图谱的基础上,进行QTL分析得到QTL座位信息;步骤四:鉴定子代DNA样品的表型信息,并准确地统计表型值分布,将表型值按梯度分组,把极端的表型值所对应的子代DNA样品的高精度短片段序列分别混合,分析基因型频率分布,通过卡方检验和秩和检验,找到相关的显著区域;步骤五:整合QTL座位信息与步骤四得到准确基因定位信息。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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