Sebastian Bauer,Patrick Kugler,Günter Lauritsch,Andreas Maier,Daniel Stromer
申请号：
DE102015219520
公开号：
DE102015219520A1
申请日:
2015.10.08
申请国别(地区):
DE
年份:
2017
代理人:
摘要：
Die Erfindung betrifft eine Tomographieanlage (R) mit einer Strahlquelle (Q) und einem Detektor (DV), die dazu vorbereitet ist, einen Scan durchzuführen, während die Strahlquelle (Q) entlang einer kreisförmigen oder helixförmigen ersten Bahnkurve (BK1Q) um eine Orbitalachse (OA) geführt wird, während eine rechteckige Sensorfläche (SF) des Detektors (RD) in einem Abstand (SID) zu der Strahlquelle (Q) entlang einer kreisförmigen oder helixförmigen zweiten Bahnkurve (BK2S) um die Orbitalachse (OA) geführt wird. Während des Scans weist ein Gierwinkel (GW) zwischen einer Mittelsenkrechten (MS) der Sensorfläche (SF) und der Rotationsebene (RE), in der sich die Strahlquelle (Q) aktuell befindet, einen Wert auf, der größer als 0° und zugleich kleiner als 90° ist.Außerdem betrifft die Erfindung entsprechendes Verfahren (100) zum Gewinnen von Projektionsdaten.The invention relates to a tomography system (R) with a beam source (Q) and a detector (DV), which is prepared to perform a scan, while the beam source (Q) along a circular or helical first trajectory (BK1Q) about an orbital axis ( OA), while a rectangular sensor surface (SF) of the detector (RD) is guided at a distance (SID) to the beam source (Q) along a circular or helical second trajectory (BK2S) around the orbital axis (OA). During the scan, a yaw angle (GW) between a mid-perpendicular (MS) of the sensor surface (SF) and the plane of rotation (RE) in which the beam source (Q) is currently located has a value greater than 0 ° and smaller at the same time than 90 °. In addition, the invention relates to a corresponding method (100) for obtaining projection data.
