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RADIATION IMAGING SYSTEM
专利权人:
发明人:
申请号:
EP11739930.3
公开号:
EP2531105A1
申请日:
2011.02.02
申请国别(地区):
EP
年份:
2012
代理人:
摘要:
An X-ray imaging system is provided with an X-ray source (11), first and second absorption gratings (31, 32), and a flat panel detector (FPD) (30), and obtains a phase contrast image of an object H by performing imaging while moving the second absorption grating (32) in x direction relative to the first absorption grating (31). The following mathematical expression is satisfied where p1 denotes a period of a first pattern image at a position of the second absorption grating (32), and p2 denotes a substantial grating pitch of the second absorption grating (32), and Dx denotes a dimension, in the x-direction, of an X-ray imaging area of each pixel of the FPD (30). Here, "n" denotes a positive integer. Dx ≠ n x (p1 x p2)/ p1 - p2Linvention porte sur un système dimagerie par rayons X qui est pourvu dune source de rayons X (11), dun premier et dun second réseau dabsorption (31, 32) et dun détecteur à panneau plat (FPD) (30), et qui obtient une image de contraste de phase dun objet H par lexécution dune imagerie tout en déplaçant le second réseau dabsorption (32) dans une direction x par rapport au premier réseau dabsorption (31). Lexpression mathématique suivante est satisfaite, p1 indiquant une période dune première image de modèle à une position du second réseau dabsorption (32) et p2 indiquant une inclinaison de réseau sensible du second réseau dabsorption (32), et Dx indiquant une dimension, dans la direction x, dune zone dimagerie par rayons X de chaque pixel du détecteur à panneau plat (FPD) (30). Dans les présentes, « n » indique un entier relatif positif. Dx ≠ n x (p1 x p2)/p1 - p2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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