The present invention relates to an apparatus (10) for imaging an object. It is described to position (210) an X-ray detector relative to at least one X-ray source such that at least a part of a region between the at least one X-ray source and the X-ray detector is an examination region for accommodating an object. In a first mode of operation, with the at least one X-ray source a first focal spot is produced (220), such that at least some first X-rays produced at the first focal spot pass through a first grating of an interferometer arrangement, the first grating positioned at a first position, and such that the at least some first X-rays pass through a second grating of the interferometer arrangement, the second grating positioned at a second position. In the first mode of operation, the at least some first X-rays are detected (230) with the X-ray detector at a detector position. In a second mode of operation, with the at least one X-ray source a second focal spot is produced (240), such that at least some second X-rays produced at the second focal spot avoid the first grating at the first position. In the second mode of operation, the at least some second X-rays are detected (250) with the X-ray detector at the detector position.La présente invention concerne un appareil (10) destiné à capturer une image d'un objet. Selon la présente invention, on positionne (210) un détecteur de rayons X par rapport à au moins une source de rayons X de sorte qu'au moins une partie d'une région entre l'au moins une source de rayons X et le détecteur de rayons X soit une région d'examen pour recevoir un objet. Dans un premier mode de fonctionnement, avec l'au moins une source de rayons X, un premier point focal est produit (220), de telle sorte qu'au moins certains premiers rayons X produits au niveau du premier point focal passent à travers un premier réseau d'un agencement d'interféromètres, le premier réseau étant positionné en une première position, et de telle sorte que lesdi
