There is provided a method for at least partly determining the orientation of an edge-on x-ray detector with respect to the direction of x-rays from an x-ray source. The method includes obtaining (S1) information from measurements, performed by the x-ray detector, representing the intensity of the x-rays at a minimum of two different relative positions of a phantom in relation to the x-ray detector and the x-ray source, the phantom being situated between the x-ray source and the x-ray detector and designed to embed directional information in the x-ray field when exposed to x-rays. The method also includes determining (S2) at least one parameter associated with the orientation of the x-ray detector with respect to the direction of x-rays based on the obtained information from measurements and a geometrical model of the spatial configuration of the x-ray detector, x-ray source and phantom.L'invention concerne un procédé pour déterminer au moins en partie l'orientation d'un détecteur de rayons X à géométrie « edge-on » par rapport à la direction de rayons X provenant d'une source de rayons X. Le procédé comprend l'obtention (S1) d'informations à partir des mesures, effectuées par le détecteur de rayons X, représentant l'intensité des rayons X en au moins deux positions relatives différentes d'un fantôme par rapport au détecteur de rayons X et à la source de rayons X, le fantôme étant situé entre la source de rayons X et le détecteur de rayons X et conçu pour incorporer des informations directionnelles dans le champ de rayons X lors d'une exposition aux rayons X. Le procédé consiste également à déterminer (S2) au moins un paramètre associé à l'orientation du détecteur de rayons X par rapport à la direction de rayons X en se basant sur les informations obtenues à partir de mesures et d'un modèle géométrique de la configuration spatiale du détecteur de rayons X, de la source de rayons X et du fantôme.
