Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bestimmung mindestens einer mechanischen Eigenschaft eines Untersuchungsobjekts, wobei die Vorrichtung aufweist: eine erste Signalquelle zum Erzeugen eines ersten Signals mit einer ersten Frequenz, wobei das erste Signal in das Untersuchungsobjekt einkoppelbar ist, eine weitere Signalquelle zum Erzeugen eines weiteren Signals mit einer weiteren Frequenz, wobei die weitere Frequenz von der ersten Frequenz verschieden ist, wobei die weitere Frequenz veränderbar ist, wobei das weitere Signal derart in das Untersuchungsobjekt einkoppelbar ist, dass sich das erste und weitere Signal in zumindest einem Teilbereich des Untersuchungsobjekts überlagern, eine Einrichtung zur Erfassung einer Intensität eines gestreuten Anteils (6) des ersten Signals, wobei der gestreute Anteil (6) ein durch das weitere Signal gestreuter Anteil des ersten Signals ist.The invention relates to a device and a method for determining at least one mechanical property of an examined object. The device has the following: a first signal source for generating a first signal which has a first frequency and which can be coupled into the examined object an additional signal source for generating an additional signal which has an additional frequency that differs from the first frequency, said additional frequency being modifiable, wherein the additional signal can be coupled into the examined object such that the first and additional signal overlap in at least one sub-region of the examined object and a device for detecting an intensity of a scattered portion (6) of the first signal, said scattered portion (6) being a first signal portion which is scattered by the additional signal.Linvention concerne un dispositif et un procédé pour la détermination dau moins une propriété mécanique dun objet à examiner, le dispositif présentant : une première source de signal pour générer un premier signal dune première fréquence, le premier signal pouvant être
