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逐次比較型A/D変換装置、撮像装置、内視鏡および設定方法
专利权人:
オリンパス株式会社
发明人:
平出 修三,原田 靖也,大澤 雅人
申请号:
JP2018537891
公开号:
JPWO2018116540A1
申请日:
2017.09.06
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
The present invention provides a successive approximation A/D conversion device, an imaging apparatus, an endoscope and a setting method which are capable of preventing deterioration of the linearity of an output signal. A successive approximation A/D conversion device 27 is provided with: a capacity circuit 402 having a binary capacity for holding a pair of analog signals sampled by a sampling circuit 401 a comparison circuit 403 for comparing one signal and another signal that form a pair of voltage signals a correction circuit 404 for outputting to the comparison circuit 403 the pair of voltage signals in which a parasitic capacity in an input transistor of the comparison circuit 403 has been offset and a control circuit 405 for successively determining the value of each bit of a digital signal corresponding to the binary capacity by a binary search method, and reflecting the value of each bit of the digital signal in the reference signal.La présente invention concerne un dispositif de conversion A/N à approximations successives, un appareil dimagerie, un endoscope et un procédé de réglage capables dempêcher la détérioration de la linéarité dun signal de sortie. Un dispositif de conversion A/N à approximations successives (27) comporte : un circuit à capacité (402) ayant une capacité binaire permettant de contenir une paire de signaux analogiques échantillonnés par un circuit déchantillonnage (401) un circuit de comparaison (403) permettant de comparer un signal et un autre signal formant une paire de signaux de tension un circuit correcteur (404) permettant de délivrer en sortie au circuit de comparaison (403) la paire de signaux de tension dont une capacité parasite dans un transistor dentrée du circuit de comparaison (403) a été décalée et un circuit de commande (405) permettant de déterminer successivement la valeur de chaque bit dun signal numérique correspondant à la capacité binaire au moyen dun procédé de recherche binaire et à refléter la valeur de ch
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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