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光干渉断層装置
专利权人:
NIPPON TELEGR & TELEPH CORP
发明人:
TOYODA SEIJI,豊田 誠治,KOBAYASHI JUNYA,小林 潤也,OMI MASAHITO,近江 雅人
申请号:
JP2015246641
公开号:
JP2017111053A
申请日:
2015.12.17
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical coherence tomography that allows a use of a single device to acquire three-dimensional information on a plurality of different observation objects.SOLUTION: The present invention relates to an optical coherence tomography that generates an optical tomographic image of an observation object, using reflection light to be obtained by irradiating the observation object with low interference light. The optical coherence tomography comprises: at least two light sources that output the low interference light of a different wavelength band an optical path change-over device that outputs the low interference light from one selected light source of the at least two light sources a beam splitter that splits the output low interference light into reference light and measurement light: a reference light mirror that reflects the reference light and inputs reflected reference light into the beam splitter again a plane surface scanning mechanism that irradiates the observation object with the measurement light through plane scanning, and inputs reflection light of the measurement light from the observation object into the beam splitter again optical detection means that detects interference light between the reference light and measurement light interfered in the beam splitter and a signal processing device that generates the optical tomographic image of the observation object from the interference light.SELECTED DRAWING: Figure 2COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】1の装置を用いて複数の異なる観察対象物の3次元情報を取得することができる光断層装置を提供する。【解決手段】本発明は、観察対象物に低干渉光を照射して得られる反射光を用いて、観察対象物の光断層画像を生成する光干渉断層装置であって、異なる波長帯の低干渉光を出力する、少なくとも2つの光源と、少なくとも2つの光源のうち、選択した1の光源からの低干渉光を出力する光路切替装置と、出力した前記低干渉光を、参照光と測定光とに分割するビームスプリッタと、参照光を反射して再びビームスプリッタへ入力する参照光ミラーと、測定光を平面走査して観察対象物に照射し、観察対象物からの測定光の反射光をビームスプリッタへ再入力する平面走査機構と、ビームスプリッタにおいて干渉された参照光と測定光との干渉光を検出する光検出手段と、干渉光から観察対象物の光断層画像を生成する信号処理装置とを備える。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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