WOELFEL, MATHIAS,WOELFEL, Mathias,KITTELMANN, OLAF,KITTELMANN, Olaf,THUERMER, DANIEL,THUERMER, Daniel
申请号:
EPEP2010/007531
公开号:
WO2012/076031A1
申请日:
2010.12.10
申请国别(地区):
EP
年份:
2012
代理人:
摘要:
Eine Lasereinrichtung, insbesondere für die ophthalmologische Laserchirurgie, umfasst eine Laserquelle (14) zur Bereitstellung von Laserstrahlung, steuerbare Scankomponenten (20) zur Einstellung einer Fokusposition der Laserstrahlung, Messkomponenten (30) zur Erfassung von Informationen, welche für eine Ist- Position des Strahlungsfokus repräsentativ sind, sowie eine die Laserquelle und die Scankomponenten steuernde Steueranordnung (22). Erfindungsgemäß ist die Steueranordnung dazu eingerichtet, die Durchführung eines Testbetriebslaufs mindestens eines Teils der Scankomponenten bei abgeschalteter Laserquelle nach Maßgabe eines vorgegebenen Test-Scanmusters zu bewirken, wobei das Test-Scan muster mindestens eine Scanbahn für den Strahlungsfokus definiert und die Steueranordnung dazu eingerichtet ist, während einer Scanbewegung entlang der Scanbahn mehrmals hintereinander eine Erfassung der Ist-Fokusposition ohne Anhalten der Scanbewegung zu bewirken und in Zuordnung zu jeder erfassten Ist-Fokusposition eine Soll-Fokusposition zu ermitteln. Durch den Testbetriebslauf kann sichergestellt werden, dass die Scankomponenten auch nach einer eventuell vorangehenden Standzeit der Lasereinrichtung alle Positionen innerhalb eines verfügbaren Scanbereichs anfahren können.The invention relates to a laser arrangement, in particular for ophthalmological laser surgery, comprising a laser source (14) for producing laser radiation, controllable scanning components (20) for adjusting a focus position of the laser radiation, measuring components (30) for detecting information which is representative of an actual position of the radiation focus, and a control arrangement (22) controlling the laser source and the scanning components. According to the invention, the control arrangement is configured to carry out a test run of at least some of the scanning components according to a predetermined test scanning pattern when the laser source is switched off, the test scanning pattern defining