The present invention relates to a large-area OCT system, in which interference between a reference light generated by a laser beam having a wavelength corresponding to each wave number reflected by a reference mirror and a reflected light generated by reflecting the laser beam with a measurement object And an image processing unit for determining and compensating for the depthwise movement of the measurement object, based on the plurality of interference images formed by the plurality of interference images. The image processing unit obtains interference intensities corresponding to each of the wave numbers from a plurality of interference images corresponding to each of the wave numbers included in each wave number domain to a specific point of the object to be measured Obtain short-time A-line profiles corresponding to wavenumber regions based on the obtained interference intensities, obtain a depth value corresponding to each wavenumber region from each short-time A-line profiles , The depth direction movement of the measurement object can be determined based on the variation of the obtained depth values.본 발명은 대면적 OCT 시스템으로서, 각 파수(wave number)에 대응하는 파장을 갖는 레이저빔이 기준 거울에 의해 반사되어 생성된 기준광과, 레이저빔이 측정 대상물에 의해 반사되어 생성된 반사광 사이의 간섭에 의해 형성되는 복수의 간섭 이미지들에 기초하여, 측정 대상물의 깊이 방향 움직임을 결정 및 보상하는 이미지 처리부를 포함할 수 있다. 이미지 처리부는, 복수의 간섭 이미지들 중에서 각 파수 영역(wave number domain)에 포함된 파수들 각각에 대응하는 간섭 이미지들로부터, 측정 대상물의 특정 지점에 대하여, 파수들 각각에 대응하는 간섭 세기들을 획득할 수 있고, 획득된 간섭 세기들에 기초하여 파수 영역들에 대응하는 단시간 A-line 프로파일들을 획득할 수 있으며, 단시간 A-line 프로파일들 각각으로부터 각 파수 영역에 대응하는 깊이 값을 획득할 수 있고, 획득된 깊이 값들의 변동에 기초하여 측정 대상물의 깊이 방향 움직임을 결정할 수 있다.
