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a measurement circuit for an x-ray detector, and a corresponding method and an x-ray imaging system (A MEASUREMENT CIRCUIT FOR AN X-RAY DETECTOR, AND A CORRESPONDING METHOD AND X-RAY IMAGING SYSTEM)
专利权人:
프리스매틱 센서즈 에이비
发明人:
셰린, 마르틴
申请号:
KR1020187013935
公开号:
KR1020180103041A
申请日:
2016.05.03
申请国别(地区):
KR
年份:
2018
代理人:
摘要:
A measuring circuit 30 for x-ray detector 5 is provided. The measuring circuit 30 samples the measurement data to produce a data point and combines the two or more data points obtained at different times to make the number of reading data points smaller than the number of original data points And to process the data point prior to reading to create a new data point.x-선 검출기(5)용 측정 회로(30)가 제공된다. 상기 측정 회로(30)는 데이터 포인트를 생성하기 위하여 측정 데이터를 샘플링하고, 원래의 데이터 포인트의 수보다 판독용 데이터 포인트의 수가 작게 되도록 하기 위하여, 상이한 시간에 획득된 2개 이상의 데이터 포인트를 결합함으로써 새로운 데이터 포인트를 생성하기 위하여 상기 데이터 포인트를 판독 이전에 처리하도록 구성된다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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