超声波探测器以及使用该超声波探测器的超声波检査装置
- 专利权人:
- 松下电器产业株式会社
- 发明人:
- 永田贵之,门胁慎一,古屋博之
- 申请号：
- CN201180003578.7
- 公开号：
- CN102946809A
- 申请日:
- 2011.01.31
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 目的在于提供一种能够在构造上提高分辨率的超声波探测器。该超声波探测器具备向被检体(11)发送超声波的超声波探测器(12)、以及利用光来检测由被检体(11)内部的组织反射的超声波的光探测器(13)，所述超声波探测器(12)的开口大于所述光探测器(13)的开口。由此，通过大开口来检测来自被检体(11)的反射波(超声波)，因此能够得到比发送的超声波的宽度高的分辨率。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
