散射光测量装置

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专利权人:

奥林巴斯株式会社

发明人:

伊藤辽佑

申请号：

CN201380047195.9

公开号：

CN104619233A

申请日:

2013.09.09

申请国别(地区):

CN

年份:

2015

代理人:

摘要：

一种散射光测量装置，具有光学测量装置(1)和散射光测量探头(101)，其中，光学测量装置(1)具有：光源(10)，其射出至少包含测量对象波长的光；光检测器(12)，其检测由散射光测量探头(101)接收到的光；分支部(11)，其将来自光源(10)的光引导至散射光测量探头(101)，并且将来自散射光测量探头(101)的光引导至光检测器(12)；以及控制部(13)，其基于由光检测器(12)检测出的光来评价被检查物的表层的散射特性，该散射光测量探头(101)具有光纤(102)，该光纤(102)在一端与光学测量装置(1)进行连接，传播来自光源的光并对被检查物进行照射，并且在另一端与被检查物接触，接收照射到被检查物的光在被检查物的内部进行传播并返回来的光，将该光作为光信号而向光检测器(12)引导，光纤(102)传播光，具有大致棒状的芯部(1020)，该芯部(1020)具有根据被检查物的检测深度来确定的直径。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/