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A Method for Compensating an Error by an Operating Temperature in a Quantified X-ray System
专利权人:
MEDIKORS INC.
发明人:
YOON GWI YEONG,윤귀영
申请号:
KR1020180169806
公开号:
KR1020157920000B1
申请日:
2018.12.26
申请国别(地区):
KR
年份:
2019
代理人:
摘要:
The present invention relates to a method for compensating for an error caused by the temperature of a quantified X-ray system and, more specifically, to a method for compensating for an error caused by the temperature of a quantified X-ray system to compensate for a difference in a detection image caused by a difference in doses caused by a temperature difference in a process for operating an X-ray tube. The method comprises the following steps: measuring the temperature while inspecting an object by irradiating an X-ray; generating temperature data based on a scan unit or a frame unit; and generating a temperature compensation image by applying an X-ray dose change by the generated temperature data to the obtained image.본 발명은 정량화 엑스선 시스템의 온도에 따른 오차 보정 방법에 관한 것이고, 구체적으로 엑스레이 튜브의 작동 과정에서 발생하는 온도 차이로 인하여 발생되는 선량의 차이로 인한 탐지 이미지의 차이를 보상하기 위한 정량화 엑스선 시스템의 온도에 따른 오차 보정 방법에 관한 것이다. 정량화 엑스선 시스템의 온도에 따른 오차 보정 방법은 엑스레이를 조사하여 검사 대상에 대한 검사가 이루어지는 과정에서 온도 측정이 되는 단계; 스캔 단위 또는 프레임 단위에 기초하여 온도 데이터가 생성되는 단계; 및 생성된 온도 데이터에 따른 엑스선 선량 변화를 획득된 이미지에 적용하여 온도 보상 이미지가 생성되는 단계를 포함한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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