您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

肌状態評価方法
专利权人:
KAO CORP
发明人:
HASHIMOTO MASATOSHI,橋本 雅俊,IGARASHI TAKANORI,五十嵐 崇訓,KISHIMOTO HIROKO,岸本 裕子
申请号:
JP2017008990
公开号:
JP2018114245A
申请日:
2017.01.20
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technology to quantitatively evaluate a skin condition accurately using space waveform information on an uneven shape of the skin.SOLUTION: A skin condition evaluation method includes: a step (S11) for acquiring space waveform information on an uneven shape of the skin a derivation step (S13) for deriving space variation characteristics of an object space waveform, or characteristic information indicating interrelation characteristics between the object space waveform and a space waveform of a comparison object skin using the space waveform information acquired in the step (S11) and an evaluation step (S15) for evaluating a condition of the skin based on the characteristic information derived in the step (S13).SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】肌の凹凸形状に関する空間波形情報を用いて的確に肌状態を定量評価する技術を提供する。【解決手段】肌状態評価方法は、肌の凹凸形状に関する空間波形情報を取得する工程(S11)と、工程(S11)で取得された空間波形情報を用いて、対象空間波形の空間変動特性又はその対象空間波形と比較対象肌の空間波形との間の相互関係特性を示す特性情報を導出する導出工程(S13)と、工程(S13)で導出された特性情報に基づいて、前記肌の状態を評価する評価工程(S15)と、を含む。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充