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肌状態評価方法
专利权人:
KAO CORP
发明人:
HASHIMOTO MASATOSHI,橋本 雅俊,IGARASHI TAKANORI,五十嵐 崇訓
申请号:
JP2017008989
公开号:
JP2018114244A
申请日:
2017.01.20
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technology to quantitatively evaluate a skin condition accurately using waveform information on the skin.SOLUTION: A skin condition evaluation method includes: a step (S11) for acquiring time waveform information on a physical amount detected by causing a detection part to come in contact with the skin directly or indirectly, and slide on it a derivation step (S13) for deriving time variation characteristics of an object time waveform, or characteristic information indicating interrelation characteristics between the object time waveform and a time waveform of a comparison object skin using the time waveform information acquired in the step (S11) and an evaluation step (S15) for evaluating a condition of the skin based on the characteristic information derived in the step (S13).SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】肌に関する波形情報を用いて高精度に肌状態を定量評価する技術を提供する。【解決手段】肌状態評価方法は、検出部を肌に間接的又は直接的に接触させ摺動させることで検出された物理量に関する時間波形情報を取得する工程(S11)と、工程(S11)で取得された時間波形情報を用いて、対象時間波形の時間変動特性又は対象時間波形と比較対象肌の時間波形との間の相互関係特性を示す特性情報を導出する導出工程(S13)と、工程(S13)で導出された特性情報に基づいて、当該肌の状態を評価する評価工程)(S15)とを含む。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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