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脈波計測装置およびプログラム
专利权人:
SEIKO EPSON CORP
发明人:
WATANABE SHINICHIRO,渡辺 晋一郎
申请号:
JP2011028294
公开号:
JP2012165851A
申请日:
2011.02.14
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To avoid the lowering of the S/N ratio caused by the influence of the external light in the detection signal of a light emitting element without increasing the drive power of the light emitting element in the case of performing the measurement of a pulse wave by photoelectric conversion.SOLUTION: The light emitting element 32a of a pulse wave sensor 30 repeats the lighting and lights-out toward a measuring region periodically. A sample-hold circuit 1117a performs sample-holding of the output signal of a light receiving element 32b within the lighting time of the light emitting element 32a while a sample-hold circuit 1117a performs a sample hold of the output signal of the light receiving element 32b within the lights-out time of the light emitting element 32a. A subtraction circuit 1118 outputs the difference signal between the output signals of the circuits 1117a and 1117b and an operational processing circuit 120 measures the pulse wave from this signal.COPYRIGHT: (C)2012,JPO&INPIT【課題】光電変換による脈波測定を行う場合において、発光素子の駆動電力を大きくすることなくその検出信号における外光の影響によるS/Nの低下を回避する。【解決手段】脈波センサー30の発光素子32aは測定部位に向けた光の点灯と消灯を周期的に繰り返す。サンプルホールド回路1117aは、発光素子32aが点灯している時間内における受光素子32bの出力信号をサンプルホールドする。サンプルホールド回路1117aは、発光素子32aが消灯している時間内における受光素子32bの出力信号をサンプルホールドする。減算回路1118は、回路1117a,1117bの出力信号の差分信号を出力し、演算処理回路120は、この信号から脈波の計測を行う。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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