X射线干涉成像系统
- 专利权人:
- 斯格瑞公司
- 发明人:
- 西尔维娅·贾·云·路易斯,云文兵,雅诺什·科瑞
- 申请号：
- CN202010084244.8
- 公开号：
- CN111166363A
- 申请日:
- 2015.30.04
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 本申请提供X射线干涉成像系统。一种x射线系统包括:x射线源,x射线源包括:包括第一材料的基板以及至少多个离散结构,至少多个离散结构与基板热传递并被布置为离散结构的周期性图案中,多个离散结构包括响应于电子轰击产生x射线的第二材料;x射线相移光栅,x射线相移光栅包括被定位成用于衍射由所述离散结构的周期性图案产生的x射线,该x射线与x射线相移光栅交互以形成Talbot干涉图案;被配置为保持物体的台级;以及x射线检测器,x射线检测器包括二维阵列的x射线检测元件,x射线检测器被定位成用于检测由X射线相移光栅衍射并由物体扰乱的x射线。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
