X射线相位衬度检测器
- 专利权人:
- 通用电气公司
- 发明人:
- 比朱·雅各布,彼得·迈克尔·伊迪克,布莱恩·大卫·亚诺夫,乌韦·维德曼
- 申请号：
- CN202110024957.X
- 公开号：
- CN113243927A
- 申请日:
- 2021.01.08
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2021
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明题为“X射线相位衬度检测器”。本公开涉及相位衬度成像检测器的制造和用途，该相位衬度成像检测器包括子像素分辨率电极或光电二极管，该子像素分辨率电极或光电二极管被间隔开以对应于相位衬度干涉图案。使用此类检测器的系统可采用比通常在相位衬度成像系统中使用的光栅更少的光栅，其中通常由检测器侧分析仪光栅提供的某些功能性由检测器的子像素分辨率结构(例如，电极或光电二极管)执行。使用检测器采集的测量结果可用于不需要在不同相位阶跃处进行多次采集的情况下确定相位衬度干涉图案的偏移、振幅和相位。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
