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Scan Abutment for elaborate Implant Dental Procedure
专利权人:
이영종
发明人:
이영종
申请号:
KR2020110008050
公开号:
KR2020130001724U
申请日:
2011.09.05
申请国别(地区):
KR
年份:
2013
代理人:
摘要:
The present invention relates to the shape of a scan abutment structure used in an implant procedure, and through the present design, it is possible to obtain an accurate insertion direction, height, and center coordinate of an implant for a sophisticated implant procedure. 본 고안은 임플란트 시술 과정에 사용되는 스캔 어버트먼트(abutment) 구조물 형상에 관한 것으로서, 본 고안을 통해 정교한 임플란트 시술을 위한 임플란트의 정확한 삽입 방향, 높이, 중심좌표를 얻을 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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