appropriate and slit lamp microscope that can be easily carried out the setting of the optical system I provide. The storage unit 102 of the slit lamp microscope 1, for each of a plurality of portions of the eye E, the reference setting condition information 110 standard setting conditions associated illumination system 8 and the observation system 6 is stored in advance ing. Search unit 121 searches for the standard setting conditions corresponding to the specified site by the operation unit 104 from the standard-setting condition information 110. Setup state acquisition section 122 acquires a current setting state of the illumination system 8 and observation system 8. Setting condition specifying unit 123, among the current settings obtained by the setup state acquisition section 122 specifies a different from the search criteria set condition by the retrieval section 121. The control unit 101 displays the information based on the specification result on the display unit 103.光学系の設定を適切かつ容易に行うことが可能な細隙灯顕微鏡を提供する。細隙灯顕微鏡1の記憶部102には、被検眼Eの複数の部位のそれぞれに対して、照明系8や観察系6の基準設定条件が対応付けられた基準設定条件情報110があらかじめ記憶されている。検索部121は、操作部104により指定された部位に対応する基準設定条件を基準設定条件情報110から検索する。設定状態取得部122は、照明系8や観察系8の現在の設定状態を取得する。設定状態特定部123は、設定状態取得部122により取得された現在の設定状態のうち、検索部121により検索された基準設定条件と異なるものを特定する。制御部101は、この特定結果に基づく情報を表示部103に表示させる。
