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物理量検出回路、物理量検出装置、電子機器及び移動体
专利权人:
セイコーエプソン株式会社
发明人:
村嶋 憲行
申请号:
JP20160140347
公开号:
JP2018009930(A)
申请日:
2016.07.15
申请国别(地区):
日本
年份:
2018
代理人:
摘要:
【課題】サンプルホールド回路とスイッチトキャパシターフィルター回路を用いた低ノイズ化が可能な物理量検出回路を提供すること。【解決手段】物理量検出素子の出力信号に基づく第1の信号をサンプルホールドする第1のサンプルホールド回路と、前記第1のサンプルホールド回路の出力信号が入力される増幅回路と、前記増幅回路の第1の出力信号が入力される第1のスイッチトキャパシター回路と、を有し、前記第1のスイッチトキャパシター回路の出力信号が前記増幅回路に入力される、スイッチトキャパシターフィルター回路と、前記スイッチトキャパシターフィルター回路の出力信号をA/D変換するA/D変換回路と、を含む、物理量検出回路。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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