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回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体
专利权人:
セイコーエプソン株式会社
发明人:
羽田 秀生
申请号:
JP20160133925
公开号:
JP2018007128(A)
申请日:
2016.07.06
申请国别(地区):
日本
年份:
2018
代理人:
摘要:
【課題】 A/D変換の高速化と、変換エラーの抑制を図る回路装置、物理量検出装置、電子機器及び移動体等の提供。【解決手段】 回路装置40は、逐次比較レジスター52を有する制御回路50と、逐次比較レジスター52からの出力データをD/A変換するD/A変換回路DACと、アナログ入力信号VINと、D/A変換回路DACからの出力信号DQを比較する比較回路CPを含み、制御回路50は、変換範囲の上限値、下限値を保持する上限値レジスター53、下限値レジスター54を有し、逐次比較処理において、比較回路CPが同一の比較結果を所定の回数以上出力した場合に、上限値を増加又は下限値を減少させる。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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