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一种电子整机加速贮存试验方法
- 专利权人:
- 北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院
- 发明人:
- 陈津虎,杨学印,王冀宁,朱曦全,胡彦平,李星,宫晓春,王薇,邹粟,辛克浩
- 申请号：
- CN201510359994.0
- 公开号：
- CN104991134B
- 申请日:
- 2015.06.26
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 王洁
- 摘要：
- 本发明属于可靠性及寿命试验中的加速贮存试验方法领域，具体涉及一种电子整机加速贮存试验方法。技术方案：本发明结合电子产品全寿命周期剖面综合分析，考虑了运输、温度、湿度等应力的影响，制定了等效自然贮存一年的综合应力加速贮存试验剖面，包括接装运输、库房贮存、野外工作、年度测试共四个过程，在该剖面下进行加速贮存试验，根据完成的试验时间，验证产品贮存寿命。有益效果：本方法适用于航空航天和车载电子产品中的控制系统类产品、测量类产品以及其它类型电子产品。该剖面覆盖了产品寿命期内规定的库房贮存和野外工作环境条件，可以在较短的时间内验证产品贮存寿命，并激发贮存薄弱环节，为产品研制及定型提供数据支撑。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
