A method for acquiring oscillometry measurements with an oscillometry measuring system comprises receiving oscillometry measurements, using at least one processor of the oscillometry measuring system, the oscillometry measurements being from at least one oscillometry recording. Parameters are identified in the oscillometry measurements. An objective function(s) is calculated from the parameters of the oscillometry measurements. The objective function(s) is evaluated as a function of at least one predetermined threshold. The oscillometry measurements are accepted or rejected from the evaluating. Oscillometry data is output using the oscillometry measurements if accepted from the evaluating. A system for acquiring oscillometry measurements is also provided.La présente invention concerne un procédé d'acquisition de mesures d'oscillométrie avec un système de mesure d'oscillométrie qui consiste à recevoir des mesures d'oscillométrie, à l'aide d'au moins un processeur du système de mesure d'oscillométrie, les mesures d'oscillométrie étant issues d'au moins un enregistrement d'oscillométrie. Des paramètres sont identifiés dans les mesures d'oscillométrie. Une ou plusieurs fonctions objectives sont calculées à partir des paramètres des mesures d'oscillométrie. La ou les fonctions objectives sont évaluées en fonction d'au moins un seuil prédéfini. Les mesures d'oscillométrie sont acceptées ou rejetées à partir de l'évaluation. Des données d'oscillométrie sont délivrées à l'aide des mesures d'oscillométrie si elles sont acceptées à partir de l'évaluation. L'invention concerne également un système d'acquisition de mesures d'oscillométrie.
