Scanning X-ray apparatus with full-field detector

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专利权人:

コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ

发明人:

ケーラー トーマス,マルテンス ゲルハルト,プロクサ ローランド,マーク ハンス‐インゴ,バン ステーベンダール ウド,ファイファー フランツ,ノエル ペーター ベンジャミン セオドール,ヴォン タッフェンバッチ マキシミリアン

申请号：

JP2017567399

公开号：

JP2018526055A

申请日:

2016.06.24

申请国别(地区):

JP

年份:

2018

代理人:

摘要：

1 is an X-ray imaging apparatus including an interferometer IF and an X-ray detector D. The footprint of the X-ray detector D is larger than the footprint of the interferometer IF. The interferometer is moved in a scanning motion across detector D, while detector D remains stationary. Preferably, the detector is a 2D full field detector.干渉計ＩＦ及びＸ線検出器Ｄを備えるＸ線撮像装置である。Ｘ線検出器Ｄのフットプリントは干渉計ＩＦのフットプリントより大きい。干渉計は検出器Ｄを横切って走査運動で移動される一方、検出器Ｄは静止状態に留まる。好ましくは、当該検出器は２Ｄ全視野検出器である。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/