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SELECTIVE CORNEAL ABERROMETRY
专利权人:
发明人:
申请号:
EP01933816.9
公开号:
EP1274341B1
申请日:
2001.04.11
申请国别(地区):
EP
年份:
2012
代理人:
摘要:
A method and system are disclosed for measuring and mapping the anterior surface topography of a cornea to determine corneal aberrations and an optimal ablation pattern for refractive and therapeutic surgery of the cornea. The invention stimulates a prospective ablation process with real-time visual feedback accurately portraying results of topographic surface alteration that would occur during an actual ablation procedure, thereby achieving minimal conreal aberrations and optimal image quality.La présente invention concerne un procédé et un système permettant de mesurer et de représenter la topographie de la surface antérieure dune cornée, afin de déterminer des aberrations cornéennes et un profil dablation optimal, en vue dune chirurgie réfractive et thérapeutique de la cornée. Cette invention simule un processus dablation prospectif avec une rétroaction visuelle en temps réel qui décrit précisément les résultats dune correction superficielle topographique qui serait réalisée lors dune opération dablation courante, ce qui permet dobtenir des aberrations cornéennes minimales et une qualité dimage optimale.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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