The present invention relates to a system for extending microscopy information, where the microscopy information is image information from a first region (118) of an associated sample, the first region being imaged with an imaging system. The extension of the microscopy information originates from probing a larger second region (116) by photons which are emitted at an exit position (128) and collected at en entry position (130). The exit position and the entry position are spatially separated so that so that average spectral information of photons emitted from the exit position and collected at the entry position, is dependent on the second region (116) of the associated sample, the second region (116) being larger than the first region (118).Linvention porte sur un système pour lextension dinformations de microscope, les informations de microscope étant des informations dimage provenant dune première région (118) dun échantillon associé, la première région étant imagée à laide dun système dimagerie. Lextension des informations de microscope provient du sondage dune seconde région plus grande (116) par des photons qui sont émis à une position de sortie (128) et collectés à une position dentrée (130). La position de sortie et la position dentrée sont séparées spatialement de telle sorte que des informations spectrales moyennes de photons émis à partir de la position de sortie et collectés à la position dentrée, dépendent de la seconde région (116) de léchantillon associé, la seconde région (116) étant plus grande que la première région (118).
