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光計測装置
专利权人:
FUJI XEROX CO LTD
发明人:
MATSUSHITA KAZUMASA,松下 和征,SHIRAKAWA YOSHINORI,白川 佳則,HAYAKAWA JUNICHIRO,早川 純一朗,YUKAWA KOHEI,湯川 浩平
申请号:
JP2016245483
公开号:
JP2018099161A
申请日:
2016.12.19
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To perform change of a polarization state with higher accuracy, compared with a case in which an optical axis of a wavelength plate is rotated for changing a polarization state of light.SOLUTION: As shown in (a), a change mechanism 29 has plural wavelength plates 291 for changing a polarization state of light. In detail, the change mechanism 29 comprises, as the wavelength plates 291, a first wavelength plate 291A positioned on a left side in the drawing and a second wavelength plate 291B positioned on a right side in the drawing. An optical axis of the first wavelength plate 291A is 0°, and an optical axis of the second wavelength plate 291B is 45°. When a slide member 293 is moved from a state shown in (a), the second wavelength plate 291B is positioned on an optical path of incident light as shown in (b).SELECTED DRAWING: Figure 6COPYRIGHT: (C)2018,JPO&INPIT【課題】波長板の光学軸を回転させて光の偏光状態の変更を行う場合に比べ、偏光状態の変更をより高い精度で行えるようにする。【解決手段】(a)に示すように、変更機構29には、光の偏光状態を変更する複数の波長板291が設けられている。具体的には、変更機構29には、波長板291として、図中左側に位置する第1波長板291Aと、図中右側に位置する第2波長板291Bとが設けられている。第1波長板291Aの光学軸は0°となっており、第2波長板291Bの光学軸は45°となっている。(a)に示す状態から、スライド部材293が移動すると、(b)に示すように、入射光の光路上に、第2波長板291Bが位置する。【選択図】図6
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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