稻米参数自动测量装置及方法
- 专利权人:
- 华中科技大学
- 发明人:
- 骆清铭,刘谦,毕昆,段凌凤
- 申请号：
- CN200810048740.7
- 公开号：
- CN101339117A
- 申请日:
- 2008.08.08
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2009
- 代理人:
- 唐正玉
- 摘要：
- 本发明涉及一种稻米参数自动测量装置及方法，本装置由预设的计算机控制，采用单株脱粒仪将稻穗脱粒，谷粒由单株脱粒仪通过直槽式接口落到皮带上，由运转的皮带分离谷粒；由X－ray成像系统拍摄X射线透射图，由计算机将所得图像进行处理，得到稻米的各项参数。本发明利用X射线成像的方法，用数字图像处理技术处理拍摄到的图像，得到稻米的各项参数，无需对脱粒后的谷粒进行去壳处理，且将脱粒、参数提取集成到一个系统中，具有安全无损、测量结果准确可靠，操作简单等优点。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
