谷粒参数自动测量装置及方法
- 专利权人:
- 华中科技大学
- 发明人:
- 骆清铭,曾绍群,毕昆,方伟
- 申请号：
- CN200810048741.1
- 公开号：
- CN101339118A
- 申请日:
- 2008.08.08
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2009
- 代理人:
- 唐正玉
- 摘要：
- 本发明涉及一种谷粒参数自动测量装置及方法，本装置由预设的计算机控制，采用单株脱粒仪将稻穗脱粒，谷粒由单株脱粒仪通过扩展接口落到皮带上，由运转的皮带分离谷粒；由CCD相机拍摄谷粒图像，并通过图像采集卡传给计算机，由计算机将所得图像进行处理，得到谷粒的各项参数。本发明利用CCD成像的方法，通过数字图像处理技术对拍摄到的图像进行处理，得到谷粒的长、宽、面积参数及粒数。整个过程由预设的电脑程序控制自动化完成，方面快捷，操作简单。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
