单光子发射断层成像系统的几何刻度方法
- 专利权人:
- 北京辛耕普华医疗科技有限公司
- 发明人:
- 魏清阳,刘亚强,王石,马天予,江年铭,刘迈
- 申请号：
- CN201410348073.X
- 公开号：
- CN104173074A
- 申请日:
- 2014.07.21
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提出一种单光子发射断层成像系统的几何刻度方法，包括：对准直器进行测量以获得准直器上针孔或槽缝的几何参数；将准直器和PET探测器组装成单光子发射断层成像系统；控制准直器运动，以利用PET探测器测量准直器运动至多个目标位置时的多组本底符合事件；根据多组本底符合事件得到准直器在单光子发射断层成像系统中的位置坐标。根据本发明实施例的方法可以对单光子发射断层成像系统(即SPECT系统)的几何参数进行精确刻度，为断层成像的图像重建提供精确的几何参数，从而提高单光子发射断层成像系统的成像质量。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
