The present disclosure relates to an inspection apparatus, a sensing apparatus, a sensitivity control apparatus, an inspection method, and a program which enable an inspection to be performed with higher accuracy. The inspection apparatus is provided with: a detection unit that detects components of reflected light obtained as a result of ambient light being reflected by an object to be inspected, the components corresponding to a plurality of different wavelength bands； and a control unit that controls sensitivity for each of the components corresponding to the plurality of different wavelength bands. The control unit calculates a histogram for the detection levels of all the wavelength bands of the reflected light from the inspection target as detected by the detection unit, and controls the sensitivity by determining whether the sensitivity setting in the detection unit is appropriate on the basis of the histogram regarding a specific spectral component. This technique is applicable to, for example, an inspection apparatus to inspect vegetation.La présente invention concerne un appareil d'inspection, un appareil de détection, un appareil de commande de sensibilité, un procédé d'inspection, et un programme qui permettent qu'une inspection soit effectuée avec une précision plus élevée. L'appareil d'inspection est pourvu de : une unité de détection qui détecte des composantes de lumière réfléchie obtenues du fait que la lumière ambiante est réfléchie par un objet à inspecter, les composantes correspondant à une pluralité de différentes bandes de longueur d'onde ； et une unité de commande qui commande la sensibilité pour chacune des composantes correspondant à la pluralité de différentes bandes de longueur d'onde. L'unité de commande calcule un histogramme pour les niveaux de détection de toutes les bandes de longueur d'onde de la lumière réfléchie à partir de la cible d'inspection détectée par l'unité de détection, et commande la sensibilité en déterminant si le rég
