The present invention relates to an X-ray imaging system and a method for differential phase&mdashcontrast imaging of an object. To improve calibration of differential phase&mdashcontrast imaging systems and the alignment of the gratings an X-ray imaging system is provided that comprises an X-ray emitting arrangement providing at least partially coherent X-ray radiation and an X-ray detection arrangement comprising a phase-shift diffraction grating, a phase analyzer grating, and an X-ray image detector, all arranged along an optical axis. For stepping, the gratings and/or the X-ray emitting arrangement are provided with at least two actuators arranged opposite to each other with reference to the optical axis. For calibration, calibration projections are acquired without an object, wherein, the emitted X-ray radiation or one of the gratings is stepwise displaced with a calibration displacement value. For examination, measurement projections are acquired with an object, wherein the emitted X-ray radiation or one of the gratings is stepwise displaced with a measurement, a calibration projection is associated to each of the measurement projections by registering the latter with the calibration projections.本発明は、X線イメージングシステム及び対象物の微分位相コントラストイメージング方法に関する。微分位相コントラストイメージングシステムの校正及び回折格子の位置合わせを改善するため、少なくとも部分的にコヒーレントなX線放射線を供するX線放出装置、並びに、位相シフト回折格子、位相解析回折格子、及びX線像検出器を有するX線検出装置を有するX線イメージングシステムが供される。当該X線イメージングシステムを構成する全ての部材は光軸に沿って配置される。ステッピングを行うため、前記位相シフト回折格子と前記位相解析回折格子及び/又は前記X線放出装置には、前記光軸に対して互いに対向するように配置された少なくとも2つのアクチュエータが供される。校正を行うため、対象物が存在しない状態で校正用の投影物が得られる。ここで前記の放出されたX線放射線又は前記位相解析回折格子と前記X線放出装置のうちの1つは、校正変位値だけステップ状に変位する。検査を行うため、対象物が存在する状態で測定用の投影物が得られる。ここで前記の放出されたX線放射線又は前記位相解析回折格子と前記X線放出装置のうちの1つは、測定値だけステップ状に変位する。校正用の投影物は、前記測定用の投影物を前記校正用の投影物に記録することにより、前記測定用の投影物の各々に関連づけられる。
