The present invention relates to an X-ray imaging system and a method for differential phase - contrast imaging of an object. To improve calibration of differential phase - contrast imaging systems and the alignment of the gratings an X-ray imaging system is provided that comprises an X-ray emitting arrangement providing at least partially coherent X-ray radiation and an X-ray detection arrangement comprising a phase- shift diffraction grating, a phase analyzer grating, and an X-ray image detector, all arranged along an optical axis. For stepping, the gratings and/or the X-ray emitting arrangement are provided with at least two actuators arranged opposite to each other with reference to the optical axis. For calibration, calibration projections are acquired without an object, wherein, the emitted X-ray radiation or one of the gratings is stepwise displaced with a calibration displacement value. For examination, measurement projections are acquired with an object, wherein the emitted X-ray radiation or one of the gratings is stepwise displaced with a measurement, a calibration projection is associated to each of the measurement projections by registering the latter with the calibration projections.La présente invention concerne un système dimagerie radiologique ainsi quun procédé dimagerie par contraste de phase différentielle dun objet. Afin daméliorer létalonnage de systèmes dimagerie par contraste de phase différentielle et lalignement des réseaux, un système dimagerie radiologique comprend : un agencement émettant des rayons X, fournissant un faisceau de rayons X au moins partiellement cohérent et un agencement de détection de rayons X, comprenant un réseau de diffraction à déphasage, un réseau analyseur de phase, et un détecteur dimage radiologique, tous agencés le long dun axe optique. En vue du réglage et de létalonnage, les réseaux et/ou lagencement émettant des rayons X sont équipés dau moins deux actionneurs agencés de manière opposée les uns par rapport au
