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用于提高封装应力隔离的传感器几何形状
专利权人:
霍尼韦尔国际公司
发明人:
G·莫雷尔斯,C·E·斯图尔特,R·A·戴维斯,A·D·布拉德利
申请号:
CN200880111342.3
公开号:
CN101820814B
申请日:
2008.10.09
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
本发明公开了一种用于提高封装应力隔离的传感器几何形状。在背板上的埋头孔提高了传感器的应力隔离性能。埋头孔使得保持与封装的接触面积的背板壁变薄。可以调整埋头孔的深度和直径,以找到允许背板吸收更多封装应力的几何形状。背板的壁变薄使其硬度更小,并且允许背板吸收更多在与封装的界面处产生的应力。埋头孔还在背板的底部保持大的表面积,产生了与封装的牢固结合。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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