获取正电子发射断层扫描系统响应模型与图像重建的方法
- 专利权人:
- 中国科学院高能物理研究所
- 发明人:
- 魏龙,贠明凯,樊馨,刘双全,张玉包,曹学香,周小林,王璐,孙翠丽,高娟,王海鹏,李默涵,章志明,黄先超
- 申请号：
- CN201310345039.2
- 公开号：
- CN103393434B
- 申请日:
- 2013.08.09
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种获取正电子发射断层扫描的系统响应模型及图像重建的方法及装置。一种正电子发射断层扫描的图像重建方法，包括：获取γ光子入射到晶体条阵列的深度效应响应信息；根据所述深度效应响应信息符合生成背对背的γ光子入射晶体条对时决定的响应线的深度效应响应模型；根据所述深度效应响应模型生成系统响应模型；以及，根据所述的系统响应模型进行图像重建。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
