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PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置
- 专利权人:
- 同方威视技术股份有限公司;清华大学
- 发明人:
- 刑宇翔,张丽,陈志强,张文宇,赵自然,肖永顺,李亮,黄志峰
- 申请号：
- CN201010257010.5
- 公开号：
- CN102376096B
- 申请日:
- 2010.08.18
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明公开了一种PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置。本发明PI线选取和采样方法包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线和在所述PI线上等距离选取采样点。本发明CT图像重建方法的技术方案根据本发明PI线选取和采样方法所得到的PI线所相关的投影数据重建所选取的采样点并把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。本发明PI线选取和采样装置以及CT图像重建装置的技术方案分别对应于本发明PI线选取和采样方法以及CT图像重建方法的技术方案。采样本发明的技术方案能够得到全局一致性的采样点。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
