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基于线阵列相机和X射线双模式成像的水稻粒型参数测量装置
- 专利权人:
- 武汉谷丰光电科技有限公司
- 发明人:
- 黄成龙,杨万能,叶军立,孙晋武,张东
- 申请号：
- CN201721030255.8
- 公开号：
- CN207408272U
- 申请日:
- 2017.08.10
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本实用新型公开了一种基于线阵列相机和X射线双模式成像的水稻粒型参数测量装置，适用于农业科研人员自动测量并记录单株或单批次水稻粒型参数。谷粒输入料斗下方安装一级输送线，输送线正上方安装一个线阵列相机和一个线阵列X射线探测器用来采集谷粒图像，采取的是双模式成像技术。谷粒经过线阵列CCD和X射线探测器的正下方时，X射线能识别出实粒和空瘪粒，软件会测出谷粒的总粒数和实粒的粒数，线阵列CCD将采集到的图像通过网线传到图像采集卡及计算机，测出谷粒的粒长、粒宽以及长宽比等。本实用新型只用了一级输送线，大大缩短了谷粒在输送线上运输的时间和图像采集时间，提高了测量效率和测量精度，缩小了考种机的跨距，节约了空间，方便安装拆卸以及后期的维护。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
