用于校准磁感应断层成像系统的方法和设备
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- 阎铭,谌达宇
- 申请号：
- CN200980108445.9
- 公开号：
- CN101983341B
- 申请日:
- 2009.03.03
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种用于校准成像系统的偏移的方法和设备。本发明的核心思想在于：将参考物体置于成像系统的测量室中；在不同时间点测量与参考物体关联的信号；根据参数的变化计算评价函数，所述参数表示参考物体的电磁特性；导出使得评价函数的值最小的一组最优偏移数据，以便在随后的图像重构中补偿系统的偏移。在一个实施例中，本发明使用了包括不传导外壳和腔体的参考物体，传导流体可以填充到该参考物体中，也可从该参考物体中清空，这样，可以减少监测期间由参考物体引起的成像干扰。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
