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検査装置、センシング装置、感度制御装置、検査方法、並びにプログラム
- 专利权人:
- ソニー株式会社
- 发明人:
- 高嶋 昌利,村上 芳弘,森 浩史
- 申请号：
- JP20170525197
- 公开号：
- JPWO2016208415(A1)
- 申请日:
- 2016.06.10
- 申请国别(地区):
- 日本
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本開示は、より精度良く検査を行うことができるようにする検査装置、センシング装置、感度制御装置、検査方法、並びにプログラムに関する。検査装置は、検査の対象となる検査対象物で環境光が反射された反射光の複数の異なる波長域の成分を検出する検出部と、それらの複数の異なる波長域の成分ごとの感度を制御する制御部とを備える。そして、制御部は、検出部により検出された検査対象物の反射光の全ての波長域の検出レベルに対するヒストグラムを算出し、特定の分光成分についてのヒストグラムに基づいて、検出部の感度設定が適切であるか否かを判定することにより感度を制御する。本技術は、例えば、植生を検査する検査装置に適用できる。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
