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去除X射线散射和衍射实验中模糊效应的方法
专利权人:
中国科学院高能物理研究所
发明人:
王文佳,常广才,胡凌飞,张连辉,董宇辉,刘鹏
申请号:
CN201410531802.5
公开号:
CN104268421A
申请日:
2014.10.10
申请国别(地区):
CN
年份:
2015
代理人:
摘要:
本发明公开了一种去除X射线散射和衍射实验中模糊效应的方法,包括以下步骤:测量直通光斑在二维探测器上的分布,得到h(x,y);测量实验样品散射数据,得到g(x,y);分别将h(x,y),g(x,y)进行傅立叶变换,得直通光斑在倒易空间的分布H(u,v)和散射数据在倒易空间的分布G(u,v);对实验数据H(u,v)和G(u,v)由维纳滤波算法进行去卷积处理,得到去模糊效应后数据f(x,y)的傅立叶变换F(u,v),将F(u,v)进行反傅立叶变换得到去模糊效应后的数据f(x,y);根据f(x,y)的结果对参数α进行调整,直至得到所需的去卷积结果。本发明利用维纳滤波的方法对实验数据进行去卷积处理。使用该方法提高X射线小角散射数据角分辨,提高实验精度。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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