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CALIBRAGE DE GAIN DE DÉTECTEUR DE RAYONS X DÉPENDANT DE LA FRACTION DE RAYONNEMENT DIFFUSÉ
专利权人:
Koninklijke Philips N.V.
发明人:
申请号:
EP07805093.7
公开号:
EP2046203B1
申请日:
2007.07.10
申请国别(地区):
EP
年份:
2017
代理人:
摘要:
It is described a gain calibration for a two-dimensional X-ray detector (315), in which the gain coefficients for scattered radiation (307b) and direct radiation (307a) are measured or estimated separately. A weighed average may be applied on the appropriate scatter fraction. The scatter fraction depending gain calibration method produces less ring artifacts in X-ray images as compared to known gain calibration methods, which do not take into account the fraction of scattered radiation reaching the X-ray detector (315).
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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