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光学测量设备
专利权人:
哈美顿博纳图斯股份公司
发明人:
B·奥芬贝克,L·威利
申请号:
CN201380067544.3
公开号:
CN104870978B
申请日:
2013.12.11
申请国别(地区):
CN
年份:
2017
代理人:
摘要:
本发明涉及一种用于测量周期性信号的设备(1),包括:光源(3),用于根据由驱动设备(5)基于第一时钟脉冲(7)生成的电输入信号(8)来生成指向被测对象的光输入信号,光接收器(9),用于检测从所述被测对象接收的信号并将该信号转换成电测量信号(12),该信号对应于相位和幅度交变的光输入信号,中央控制和测量设备(10),其被设计用于生成用于所述驱动设备(5)的该第一时钟脉冲(7)以及接收并处理所述电测量信号(12,13),以及用于给所述驱动设备(5)供电的电压源装置,其中该中央控制和测量设备(10)被设计用于生成用于所述电压源装置的第二时钟脉冲(19)并基于所述第一和/或第二时钟脉冲(7,19)过滤所述电测量信号(12,13),其中所述第二时钟脉冲(19)的频率是所述第一时钟脉冲(7)的频率的偶数倍。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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