您的位置: 首页 > 农业专利 > 详情页

Measurement system and method for the analysis of implant restoration space
专利权人:
시추안 유니버시티
发明人:
위 하이양,천 자오자오,천 시
申请号:
KR1020207014721
公开号:
KR1020200077549A
申请日:
2018.03.27
申请国别(地区):
KR
年份:
2020
代理人:
摘要:
A measurement system for implant restoration space analysis, a first measurement assembly for measuring the opening amount and a plurality of tooth defect intervals, a second measurement assembly for measuring one tooth defect interval and occlusal distance, and a third measurement for measuring gum penetration depth An assembly, the first measuring assembly, the second measuring assembly and the third measuring assembly all include a connecting rod and a measuring head installed on top of the connecting rod. The measurement method for the implant restoration space analysis proceeds with the measurement system for the implant restoration space analysis. The measurement assembly is simple in structure, simple to use, and accurate in measurement data, enabling accurate and fast measurement of specific spatial characteristics of the restoration target, and related parameters such as implant size, implantation location, or shape and structure of the upper prosthesis. By providing a basis for the design of, oral analysis and model spatial analysis currently solves the problem of relying on clinical experience and lacking an accurate yet efficient measurement tool.임플란트 수복 공간 분석용 측정 시스템으로, 개구량 및 복수의 치아 결손 간격을 측정하는 제1 측정 어셈블리, 하나의 치아 결손 간격 및 교합거리를 측정하는 제2 측정 어셈블리 및 잇몸 관통 깊이를 측정하는 제3 측정 어셈블리를 포함하고, 상기 제1 측정 어셈블리, 제2 측정 어셈블리 및 제3 측정 어셈블리는 모두 연결로드와 연결로드의 상단에 설치된 측정 헤드를 포함한다. 임플란트 수복 공간 분석용 측정 방법은 상기 임플란트 수복 공간 분석용 측정 시스템으로 분석을 진행한다. 측정 어셈블리는 구조가 간결하고 사용이 간단하며 측정 데이터가 정확하여, 수복 대상 부위의 특정 공간 특징을 정확하고 빠르게 측정할 수 있으며, 매식체 치수, 식립 위치 또는 상부 보철물의 형상, 구조 등와 같은 관련 파라미터의 설계에 근거를 제공하여, 현재 구강 내 분석 및 모형 공간 분석이 임상 경험에 의존하고 정확하면서도 효율이 높은 측정 수단이 없는 문제를 해결한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

意 见 箱

匿名:登录

个人用户登录

找回密码

第三方账号登录

忘记密码

个人用户注册

必须为有效邮箱
6~16位数字与字母组合
6~16位数字与字母组合
请输入正确的手机号码

信息补充